V průběhu přednášky budou studenti seznámeni s principy a možností využití základních mikroskopických metod a difrakčních metod pro strukturní analýzy. Po uvedení základních parametrů a řešených problémů následuje přehled nejdůležitějších technik využívaných k popisu morfologie a topografie povrchů a k analýze krystalové struktury.

• Obecný úvod do charakterizace materiálů
• Optický mikroskop a optika + ukázka
• Elektronová mikroskopie SEM a TEM
• Za Válcovnou  Demonstrace SEM
• Rastrovací hrotové mikroskopie (STM)
• Rastrovací hrotové mikroskopie (AFM).
• Demonstrace AFM
• LEED + RHEED – a také viz UFTVP – Přednáška 9 části 1 a 2
• XRD
• XRD demostrace
• GISAX  a Neutronová difrakce.
• Mechanické vlastnosti vrstev, povlaků a povrchů
• Zápočtová písemka

Požadavky pro splnění podmínek:

Zápočet

1 x zápočtová písemka z každé více než 75 % bodù

Zkouška

3 x ústní otázka