Stručná anotace předmětu
Přednáška je zaměřena na osvojení základních metod studia elektronové a krystalické struktury povrchů pevných látek pomocí spektroskopie elektronů. Jde zejména o spektroskopii Augerových elektronů (AES) a její úhlově rozlišenou verzi (AREAS) a rentgenovou (XPS) a ultrafialovou fotoelektronovou spektroskopii (UPS) nebo o spektroskopii charakteristických ztrát (EELS).
Přednáška pojednává jak o jejich principech a příslušných experimentálních uspořádáních, tak o otázkách na nich založené kvalitativní i kvantitativní povrchové analýzy včetně diskuze principiálních omezení a staví na základních fyzikálních znalostech.
Pro výše uvedené metody budou vždy také na příkladech prakticky významných materiálů dokumentovány jejich vlastnosti a praktický význam a aplikační potenciál.
Studijní literatura a studijní pomůcky
D. Briggs, John T. Grant, Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy, IM Publications (September 15, 2003), ISBN-13: 978-1901019049
Otázky ke zkoušce
- Porovnejte metody analýz využívající elektrony navzájem (min 3 metody)
- Princip metody XPS a USP
- Princip metody AES
- Vhodné vzorky pro elektronové spektroskopie a jejich příprava
- Zdroje X-ray fotonů, jejich uspořádání a vliv na měření
- Analýza spektra XPS a souvislost s plánováním experimentu
- Vlastnosti elektronů ve vzorku a jejich vliv na píky XPS spektra
- Druhy satelitních píků v XPS spektrech
- Hloubkové rozlišení s využitím XPS
- Degradace vzorků během měření XPS
- Kvalitativní a kvantitativní analýza XPS
- Kvalitativní a kvantitativní analýza AES
- Kalibrace přístroje XPS
Student si vylosuje dvě otázky.